УФ-ВИД спектрофотометры T80 и T80+

 

Двухлучевые спектрофотометры с диапазоном длины волны 190 – 1100 нм, с повышенной точностью установки длины волны. Модель T80+ имеет переменную ширину щели – 0,5, 1,0, 2,0 и 5,0 нм. Спектрофотометр T80 с фиксированной шириной полосы светопропускания 2 нм.

 

Двухлучевые сканирующие УФ-ВИД спектрофотометры с диапазоном длины волн 190-1100 нм. Модель T80 имеет фиксированную ширину полосы светопропускания 2 нм, а T80+ переменную – 0,5, 1,0, 2,0 и 5,0 нм.

Приборы имеют складной графический ЖК дисплей, отображающий график спектра со всеми характеристиками. Спектрофотометры снабжены удобной клавиатурой и могут использоваться как автономные приборы (без компьютера). При необходимости возможно подключение к компьютеру с помощью программного обеспечения Spec UV.

 

• Автоматические установка длины волны, смена рабочей лампы, калибровка длины волны, автоматический 8- позиционный кюветодержатель.

• Скорость сканирования до 1000 нм/мин.

• Автоматическое определение оставшегося ресурса ламп

• Подключение мини-принтера

• Программное обеспечение Spec UV позволяет подключить спектрофотометр к компьютеру, сохранять результаты в Word, Excell, текстовом формате. Возможность создания пользователей и групп с различными правами.

• Соответствие GLP

• 3- мерное представление спектров с функцией комбинирования.

 

Характеристики

  T80 T80+
Оптическая схема Двухлучевая
Ширина полосы светопропускания 2 нм, фиксированная 0.5, 1, 2, 5 нм, варьируемая
Режимы работы со встроенным микропроцессором / с компьютером
Программное обеспечение для встроенного микропроцессора / Spec UV для внешнего компьютера
Диапазон длины волн 190-1100 нм
Точность длины волны ± 0,3 нм (автоматическая коррекция длины волны)
Воспроизводимость длины волны 0,2 нм
Рассеяние < 0,12%Т (220нм, NaI; 340нм NaNO2
Фотометрические режимы Пропускания, абсорбция, энергия
Фотометрический диапазон -0,3…3А
Фотометрическая точность ± 0.002Abs (0-0.5A)
± 0.004Abs (0.5-1A)
± 0.3%T (0-100%T)
Фотометрическая воспроизводимость ± 0.001Abs (0-0.5A)
± 0.002Abs (0.5-1A)
± 0.15%T (0-100%T)
Линейность базовой линии ± 0,0015Abs (190-1100нм)
Стабильность базовой линии 0.0008Abs/ч (500нм, 0A, 2нм ширина щели, 2ч прогрева)
Фотометрический шум ± 0.001Abs/ч (500нм, 0A, 2нм ширина щели)
Скорость сканирования 1000 нм/мин
Размеры, масса  

 

Дополнительные аксессуары:

• Автоматический 8- позиционный кюветодержатель

• Приставка на отражение — для измерения отраженного спектра от поверхностей твердых материалов. Угол 5°

• Держатель твердых образцов

• Держатель твердых образцов с изменяемым углом

• Держатель для кювет с большой длиной пути

• Держатель для кювет с малой длиной пути

• Кюветодержатель термостатируемый методом Пелтье, 15-55°С

• Программное обеспечение Spec UV

• Система всасывания для подключения проточной кюветы

• Термо-принтер

• Держатель для микрокювет

• Кюветодержатель, термостатируемый через жидкостной термостат

 

Реклама
  1. Комментариев нет.
  1. No trackbacks yet.

Добавить комментарий

Заполните поля или щелкните по значку, чтобы оставить свой комментарий:

Логотип WordPress.com

Для комментария используется ваша учётная запись WordPress.com. Выход / Изменить )

Фотография Twitter

Для комментария используется ваша учётная запись Twitter. Выход / Изменить )

Фотография Facebook

Для комментария используется ваша учётная запись Facebook. Выход / Изменить )

Google+ photo

Для комментария используется ваша учётная запись Google+. Выход / Изменить )

Connecting to %s

%d такие блоггеры, как: